日本 ANALYZER3 NEO 内径缺陷检查装置

Name: 日本 ANALYZER3 NEO 内径缺陷检查装置SG-LSDC-6-203-18K-NEO
Brand: 其他品牌
Price: 5432 CNY
Availability: InStock

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产品名称: 日本 ANALYZER3 NEO 内径缺陷检查装置

产品型号: SG-LSDC-6-203-18K-NEO

产品特点: 日本 ANALYZER3 NEO 内径缺陷检查装置
专为工业零部件开发的高精度内径缺陷检查装置，采用光学扫描方式，可检测 Φ7mm~Φ30mm 内径内的表面缺陷，最小检测尺寸 0.2mm，检查速度快、精度高，可替代人工检测，实现生产线的自动化质量管控。

日本 ANALYZER3 NEO 内径缺陷检查装置 的详细介绍

日本 ANALYZER3 NEO 内径缺陷检查装置

这款装置是日本 ANALYZER 针对工业零部件内径缺陷检测开发的顶级设备，解决了传统人工检测效率低、误差大、漏检率高的痛点，通过光学扫描技术实现了高速、高精度的内径缺陷检查，同时提升了设备的耐久性和鲁棒性，满足严格的生产线质量管控要求。

设备采用光学扫描方式，搭载波长 640nm、最大 40mW 的红色半导体激光，通过直接光检测技术，可清晰识别内径表面的划痕、裂纹、毛刺、凹坑等缺陷。其最小检测尺寸可达 0.2mm，能捕捉到人工难以发现的微小缺陷，有效避免因漏检导致的产品质量问题。同时，设备的检查速度大幅提升，在测量长度 100mm、分辨率 0.1mm 的情况下，检查时间仅约 3.3 秒，相比人工检测效率提升数倍，实现了业务效率化。

为了确保检测的稳定性，设备采用 18,000 转 / 分钟的高速旋转机构，配合 2,400kHz 的高采样频率，可快速完成内径全周扫描，数据采集精准可靠。有效测定长度达 200mm，可适配不同长度的管状零部件。设备支持 100V/200V 电源输入，可轻松集成到工业自动化生产线中，替代人工检测后，不仅能削减人工成本，还能实现以数值为基准的稳定质量管控，防止因过度品质检查导致的不良品产生，为企业的质量控制提供可靠保障。

核心性能与优势

高精度缺陷检测：最小检测尺寸 0.2mm，可识别内径表面微小划痕、裂纹、毛刺等缺陷，漏检率低。
高速扫描检测：18,000 转 / 分钟高速旋转 + 2,400kHz 采样频率，100mm 长度检测仅需约 3.3 秒，效率远超人工。
宽适配范围：支持 Φ7mm~Φ30mm 内径，有效测定长度 200mm，适配多种工业零部件。
稳定可靠的光学技术：采用 640nm 红色半导体激光，光学扫描方式不受表面材质影响，检测结果稳定。
自动化集成便捷：支持 100V/200V 电源输入，可轻松集成到生产线，实现自动化质量管控。

典型应用场景

工业零部件（如轴承、气缸、管件）的内径缺陷检测
汽车、机械制造行业的零部件质量管控
替代人工检测，实现生产线自动化缺陷筛查
精密机械零部件的出厂前质量检测

核心规格一览

表格

项目	规格说明
型号	SG-LSDC-6-203-18K-NEO
检测方式	光学扫描方式
光源	红色半导体激光（波长 640nm，最大 40mW，3B 类）
适用内径	Φ7mm~Φ30mm
转速	18,000 转 / 分钟
有效测定长度	200mm
最小检测尺寸	0.2mm
检查速度	约 3.3 秒（测量长度 100mm、分辨率 0.1mm 时）
采样频率	~2,400kHz
电源	100V/200V

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日本 ANALYZER3 NEO 内径缺陷检查装置

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