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日本 ARMSSYSTEM 金属显微镜

产品名称: 日本 ARMSSYSTEM 金属显微镜
产品型号: ARM-100S/ ARM-100BD
产品特点: 日本 ARMSSYSTEM 金属显微镜
一款专为工业检测设计的金相显微镜,支持明视场 / 暗视场观察,可适配晶圆、液晶基板及高处工件检测,搭配丰富的物镜与配件选项,满足低倍到高倍的金属组织与表面缺陷分析需求。

日本 ARMSSYSTEM 金属显微镜 的详细介绍
日本 ARMSSYSTEM 金属显微镜
日本 ARMSSYSTEM 金属显微镜
这款显微镜是日本 ARMSSYSTEM 针对工业金相分析、半导体晶圆及液晶基板检测需求开发的专业设备,解决了传统金相显微镜难以适配高处工件、观察模式单一的痛点,以模块化设计与多模式观察能力,为用户提供灵活、高效的工业检测方案。
设备采用三目 30° 倾斜镜筒,光路比 20:80,可同时支持双目观察与相机图像采集,适配教学演示与科研记录。物镜配置丰富,标配 PL L5X/10X/20X/50X 平场物镜,可选 2.5X/40X/60X/80X/100X 物镜,工作距离范围 0.13mm~23.8mm,可满足从低倍宏观观察到高倍微观分析的需求。ARM-100S 型号支持明视场观察,搭配 5W LED 反射照明;ARM-100BD 型号支持明暗视场观察,采用 12V50W 卤素照明,可清晰呈现金属表面的划痕、孔洞等微小缺陷。
载物台尺寸为 300mm×240mm,台面 185mm×140mm,XY 移动范围 35mm×30mm,可适配较大尺寸的工件。设备采用支柱固定设计,最大样品高度 135mm,适合高处工件的观察;可选配 XY 电动载物台、延长支柱及晶圆 / 液晶基板专用支架,进一步拓展应用场景。照明系统配备落射投光管,支持开口狭缝、视野狭缝、偏光板、旋转式滤光片(Y/B/G、扩散),可根据观察需求调整光线条件,提升图像对比度与缺陷识别能力。

核心性能与优势

  • 多模式观察能力:ARM-100S 支持明视场,ARM-100BD 支持明暗视场,可适配不同类型的金属缺陷与组织观察。

  • 丰富物镜配置:标配 5X-50X 物镜,可选 2.5X-100X 物镜,覆盖低倍到高倍的工业检测需求。

  • 灵活适配设计:支柱固定结构适配高处工件,可选 XY 电动载物台、延长支柱及专用支架,满足晶圆、基板等特殊检测场景。

  • 专业照明系统:反射照明配备多种滤光片与狭缝,可调整光线条件,提升缺陷识别能力。

  • 图像采集扩展:三目镜筒支持 C 型接口适配器(0.5 倍 / 0.65 倍),可连接相机实现图像采集与分析。

典型应用场景

  • 金属零部件的金相组织分析与缺陷检测

  • 半导体晶圆、液晶基板的表面缺陷观察

  • 高处安装工件的现场金相检测

  • 材料实验室中金属、合金的微观结构研究


核心规格一览

表格
项目规格说明
目镜WF10X/φ22mm(可选带 0.10mm 刻度)
物镜(标配)ARM-100S:PL L5X/0.12、10X/0.25、20X/0.40、50X/0.70
ARM-100BD:PL L5X/0.12 BD、10X/0.25 BD、20X/0.40 BD、50X/0.70 BD
物镜(可选)2.5X/0.07、40X/0.60、60X/0.70、80X/0.80、100X/0.85(含 BD 型号)
镜筒三目 30° 倾斜,光路比 20:80
照明系统ARM-100S:5W LED(可选 6V30W 卤素)
ARM-100BD:12V50W 卤素,含落射投光管、偏光板、滤光片
载物台300mm×240mm 架台,台面 185mm×140mm,XY 移动 35mm×30mm
调焦系统粗微动同轴调节
相机接口可选 C 型支架(0.5 倍 / 0.65 倍)
最大样品高度135mm


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