多模式观察能力:ARM-100S 支持明视场,ARM-100BD 支持明暗视场,可适配不同类型的金属缺陷与组织观察。
丰富物镜配置:标配 5X-50X 物镜,可选 2.5X-100X 物镜,覆盖低倍到高倍的工业检测需求。
灵活适配设计:支柱固定结构适配高处工件,可选 XY 电动载物台、延长支柱及专用支架,满足晶圆、基板等特殊检测场景。
专业照明系统:反射照明配备多种滤光片与狭缝,可调整光线条件,提升缺陷识别能力。
图像采集扩展:三目镜筒支持 C 型接口适配器(0.5 倍 / 0.65 倍),可连接相机实现图像采集与分析。
金属零部件的金相组织分析与缺陷检测
半导体晶圆、液晶基板的表面缺陷观察
高处安装工件的现场金相检测
材料实验室中金属、合金的微观结构研究
| 项目 | 规格说明 |
|---|---|
| 目镜 | WF10X/φ22mm(可选带 0.10mm 刻度) |
| 物镜(标配) | ARM-100S:PL L5X/0.12、10X/0.25、20X/0.40、50X/0.70ARM-100BD:PL L5X/0.12 BD、10X/0.25 BD、20X/0.40 BD、50X/0.70 BD |
| 物镜(可选) | 2.5X/0.07、40X/0.60、60X/0.70、80X/0.80、100X/0.85(含 BD 型号) |
| 镜筒 | 三目 30° 倾斜,光路比 20:80 |
| 照明系统 | ARM-100S:5W LED(可选 6V30W 卤素)ARM-100BD:12V50W 卤素,含落射投光管、偏光板、滤光片 |
| 载物台 | 300mm×240mm 架台,台面 185mm×140mm,XY 移动 35mm×30mm |
| 调焦系统 | 粗微动同轴调节 |
| 相机接口 | 可选 C 型支架(0.5 倍 / 0.65 倍) |
| 最大样品高度 | 135mm |
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