日本 JEOL JCM-7000Plus 扫描电子显微镜

日本 JEOL JCM-7000Plus 扫描电子显微镜

日本 JEOL JCM-7000Plus 扫描电子显微镜

设备基础规格

• 分辨率：6.0nm (20kV 高真空二次电子像)，8.0nm (20kV 高真空反射电子像)

• 放大倍率：×10～100000 倍

• 图像模式：高真空 / 低真空模式，支持二次电子、反射电子、3D 立体图像

• 加速电压：5kV、10kV、15kV、20kV 四档可选

• 电子枪：钨丝 - 韦纳尔特一体式栅格

• 样品台：X-Y 轴电机驱动平台，X:40mm Y:40mm

• 最大样品尺寸：直径 80mm，高度 50mm

核心产品特性这款桌面型扫描电子显微镜兼顾高性能与便捷操作，高真空模式下电子束散射少，可获得清晰微观形貌，EDS 元素定性分析误差小。低真空模式能够直接观测样品，省去喷金等预处理步骤，大幅简化样品制备流程。搭载 Zeromag 功能，可从光学图像快速定位观测视野，设备自动完成聚焦、像差、亮度、图像对齐等调节，快速输出高质量 SEM 图像。内置四种 Live 实时观测功能，可同步完成形貌观察、元素成分分析、元素分布 Mapping、三维凹凸重构与粒子粒径自动统计，一键获取粒径分布、平均值等数据。可选 NeoAction 自动化模块，可预设测量流程，自动切换电压、调整图像与位置，实现多点、大面积批量重复测量，从数据采集到报告输出自动化。整机为台式紧凑型设计，降低场地安装门槛，适配材料实验室日常微观检测，操作界面直观，降低电镜操作门槛，稳定输出可溯源的微观检测数据。

适用场景广泛应用于粉体材料、纤维、金属断口、电子元器件、无机填料、石棉等样品的微观形貌观察、元素成分定性分析、颗粒粒径统计，可用于材料研发、失效分析、品质管控、异物分析等领域，适合高校、科研院所、材料企业、电子制造企业的微观检测实验室。