产品资料
首页 >>> 产品中心 >>> 配件耗材 >>> 夹具固件 >>> 全系列HISOL 系列高性能高低温晶圆夹头固件

HISOL 系列高性能高低温晶圆夹头固件

产品名称: HISOL 系列高性能高低温晶圆夹头固件
产品型号: 全系列
产品特点: HISOL 系列高性能高低温晶圆夹头固件
集成高精度温度控制、低噪声 / 低泄漏技术,可实现快速升降温、优异的夹头平面度与温度分布精度,适配高精度温度特性测试与晶圆级可靠性试验。

HISOL 系列高性能高低温晶圆夹头固件 的详细介绍

HISOL 系列高性能高低温晶圆夹头固件

HISOL 系列高性能高低温晶圆夹头固件

提供多种标准尺寸:φ155mm(6 英寸)、φ205mm(8 英寸)、φ305mm(12 英寸),覆盖主流晶圆规格。

型号丰富,可满足不同温度区间与冷却方式需求:
  • 高温型(A/AC/AH/ACH/HH):温度范围 RT~+400℃,采用压缩空气冷却,适用于中高温工况。

  • 高低温型(C/CL/CH/CLH):温度范围 - 60℃~+300℃,采用冷冻机 + 压缩空气冷却,满足宽温域测试需求。

  • 超低温型(M/ML/MH/MLH):温度范围 - 65℃~+300℃,采用氟素系液体循环冷却,实现稳定深冷控制。

    系统具备快速升降温能力,夹头平面度与温度分布精度优异,是半导体器件温度特性测试、可靠性验证的理想平台。


核心性能与优势

  • 高精度温控:结合先进温控技术,保证晶圆表面温度均匀稳定。

  • 宽温域覆盖:从 - 65℃深冷到 + 400℃高温,多型号满足不同测试场景。

  • 快速升降温:实现高效温度切换,提升测试效率。

  • 高平面度设计:夹头盘面精度高,保证晶圆贴合与测试一致性。

  • 多尺寸兼容:支持 6/8/12 英寸主流晶圆规格,适配不同产线需求。


典型应用场景

  • 半导体器件高低温温度特性测试

  • 晶圆级可靠性与老化试验

  • 芯片封装工艺的温度循环测试

  • MEMS 器件在恶劣环境下的性能验证


核心规格一览

表格
项目规格说明
标准尺寸φ155mm(6 英寸)、φ205mm(8 英寸)、φ305mm(12 英寸)
温度范围-65℃~+400℃(依具体型号而定)
加热方式电加热
冷却方式压缩空气 / 冷冻机 + 压缩空气 / 氟素系液体循环(依具体型号而定)
控制精度高精度温度分布控制




产品留言

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

深圳市秋山贸易有限公司版权所有 地址:深圳市龙岗区龙岗街道新生社区新旺路和健云谷2栋B座1002

13823147125
13823147125
在线客服
手机
13823147125

微信同号