以珀尔帖元件为温控核心,实现快速加热与制冷;冷却方式采用水冷散热,配套冷却水循环装置,可实现 - 40℃~+125℃宽温域稳定控制。支持 4 英寸与 6 英寸主流晶圆尺寸,适用于半导体器件的宽温段电学特性测试、高低温循环与可靠性验证。
宽温域控制:温控范围 - 40℃~+125℃,覆盖低温、常温与中高温测试需求
水冷式散热:配套冷却水循环装置,控温稳定、降温效率高
快速温控响应:珀尔帖元件驱动,升降温速度快,测试效率高
适配主流尺寸:覆盖 4 英寸与 6 英寸晶圆,兼容常规试样规格
集成化设计:自带循环水系统,可直接接入使用
半导体器件宽温段(-40℃~+125℃)电学特性测试
晶圆级芯片高低温循环与可靠性验证
实验室 / 产线宽温环境模拟与性能测试
| 项目 | 规格说明 |
|---|---|
| 适配尺寸 | 4 英寸(HPE40-40)、6 英寸(HPE60-40) |
| 温控范围 | -40℃~+125℃ |
| 加热 / 冷却方式 | 珀尔帖元件 + 水冷散热(附带冷却水循环装置) |
| 冷却系统 | 水冷式,配套循环水装置 |
| 适用场景 | 半导体宽温段测试、高低温循环实验、可靠性验证 |
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