以珀尔帖元件为温控核心,实现快速加热与制冷;冷却方式采用风扇强制空冷,无需水冷管路,安装与维护更简便。温控范围 + 10℃~+120℃(HPE40+10)、+10℃~+110℃(HPE60+10),支持三轴规格适配低噪声、低泄漏测量场景,可用于晶圆级器件的中温段电学特性测试与可靠性验证。
无水冷设计:采用强制空冷,省去冷却水循环装置,降低使用成本
快速温控响应:珀尔帖元件驱动,升降温速度快,测试效率高
低维护易部署:无需外接管路,实验室 / 产线安装便捷
适配主流尺寸:覆盖 4 英寸与 6 英寸晶圆,兼容常规试样规格
低噪声三轴可选:满足低泄漏、弱信号测量需求
半导体器件中温段(+10~+120℃)电学特性测试
晶圆级芯片可靠性验证与环境模拟测试
实验室 / 小型产线无水源环境下的温控测试
| 项目 | 规格说明 |
|---|---|
| 适配尺寸 | 4 英寸(HPE40+10)、6 英寸(HPE60+10) |
| 温控范围 | HPE40+10:+10℃~+120℃;HPE60+10:+10℃~+110℃ |
| 加热 / 冷却方式 | 珀尔帖元件 + 强制空冷风扇 |
| 冷却系统 | 强制空冷,无需冷却水循环装置 |
| 结构规格 | 支持三轴规格(低噪声、低泄漏测量适配) |
| 适用场景 | 半导体中温段测试、无水源环境下的温控实验 |
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