日本 NEOARK 薄膜垂直磁性特性评估装置

Name: 日本 NEOARK 薄膜垂直磁性特性评估装置
Brand: 其他品牌
Price: 1116 CNY
Availability: InStock

点击看大图

产品名称: 日本 NEOARK 薄膜垂直磁性特性评估装置

产品型号:

产品特点: 日本 NEOARK 薄膜垂直磁性特性评估装置
专为大尺寸晶圆样品开发，可完成垂直磁性堆叠膜、MTJ 膜等材料的磁性检测，支持最大 12 英寸薄片试样，具备晶圆映射评估能力，半导体激光光源波长可协商定制。

日本 NEOARK 薄膜垂直磁性特性评估装置 的详细介绍

日本 NEOARK 薄膜垂直磁性特性评估装置

设备基础规格

‑测量对象：薄片垂直磁性材料，最大支持 12 英寸晶圆，适配 MTJ 膜等试样

‑使用光源：半导体激光，波长可协商

‑空间分辨率：Φ1mm

‑最大印加磁场：20kOe（2T）起

‑设备类型：大型晶圆映射评估设备

‑输出功能：晶圆面磁性分布映射、磁滞回线采集存储

设备为大型一体化机柜式检测设备，面向晶圆级垂直磁性材料开展批量评估，可对 12 英寸以内薄片试样进行全域映射扫描，获取样品表面磁性分布数据。采用半导体激光作为探测光源，可根据被测薄膜材质调整光源波长，适配多类磁性堆叠膜、MTJ 膜的测试需求。设备可输出最高 20kOe 的外磁场条件，满足高矫顽力垂直磁性薄膜的磁滞回线测试。配套专业操作软件，自动完成扫描、数据采集、映射图谱生成，支持数据导出保存。整机结构稳固，能够降低环境振动对微弱磁光信号带来的干扰，保障大尺寸晶圆多点扫描检测的数据一致性，减少人为操作带来的测试偏差，适合产线前期研发以及晶圆样品批量评估工作。

适用于半导体材料企业、磁存储研发机构、高校科研实验室，用于垂直磁性堆叠膜、MTJ 薄膜等试样检测，开展 12 英寸及以内晶圆样品磁性映射评估，薄膜磁滞特性测试，新材料工艺开发验证，也可用于晶圆不同位置磁性均匀性比对分析。

产品留言

日本 NEOARK 薄膜垂直磁性特性评估装置

留言框

产品：

您的单位：

您的姓名：

联系电话：

常用邮箱：

省份：

详细地址：

补充说明：

验证码：