日本 NEOARK 面内垂直同时 Kerr 环测量装置

Name: 日本 NEOARK 面内垂直同时 Kerr 环测量装置
Brand: 其他品牌
Price: 1116 CNY
Availability: InStock

点击看大图

产品名称: 日本 NEOARK 面内垂直同时 Kerr 环测量装置

产品型号:

产品特点: 日本 NEOARK 面内垂直同时 Kerr 环测量装置
设备采用双向对称入射光学系统，依托斜入射 Kerr 效应，可同步分离采集样品面内与垂直两个方向磁化分量，实现双方向磁滞回线同步获取，微区空间分辨率可达 φ3μm，适配微小试样磁性薄膜检测。

日本 NEOARK 面内垂直同时 Kerr 环测量装置 的详细介绍

日本 NEOARK 面内垂直同时 Kerr 环测量装置

设备基础规格

‑测量方向：面内、垂直方向

‑使用光源：半导体激光，波长可协商定制

‑空间分辨率：φ3μm

‑最大印加磁场：2kOe（0.2T）起，配置面内・垂直一体型电磁石

‑检测原理：斜入射 Kerr 效应，对称双向入射光学系统

‑输出结果：面内、垂直磁化分量同步磁滞回线

整套设备搭载对称双方向入射光学架构，区别于传统单次单方向检测设备，无需更改光路或者调换样品，就能够同时完成面内与垂直磁化分量的分离评估，减少多次测试带来的系统误差，提升测试效率。采用半导体激光作为探测光源，光源波长支持协商调整，满足不同材料的测试需求。设备拥有 φ3μm 的微区空间分辨能力，能够针对薄膜局部微小区域开展磁性能测试，搭配面内垂直一体化电磁铁，可提供稳定可调的外磁场环境。配套专业处理软件，可同步输出两组磁化分量的 Kerr 环曲线，完成数据存储、导出与对比分析。设备整体为光学平台机柜集成结构，抗振动性能良好，降低外界环境对微弱磁光信号的干扰，适合长期稳定开展实验室科研测试工作。

适用于高校磁学实验室、科研院所、磁性材料研发企业，用于垂直磁记录薄膜、多层磁性薄膜、自旋电子材料的磁性能研究，开展面内与垂直磁化分量同步表征，微区样品磁滞回线测试，新材料样品磁各向异性分析，也可用于薄膜工艺迭代过程中的样品比对与性能验证。

产品留言

日本 NEOARK 面内垂直同时 Kerr 环测量装置

留言框

产品：

您的单位：

您的姓名：

联系电话：

常用邮箱：

省份：

详细地址：

补充说明：

验证码：