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日本 AVC 超高感度泄漏与气体测量装置

产品名称: 日本 AVC 超高感度泄漏与气体测量装置
产品型号: TULO-RGA101
产品特点: 日本 AVC 超高感度泄漏与气体测量装置
一款集超高灵敏度泄漏测试与放出气体分析于一体的设备,专为 MEMS、半导体器件等精密部件的性能评估设计。

日本 AVC 超高感度泄漏与气体测量装置 的详细介绍
日本 AVC 超高感度泄漏与气体测量装置
日本 AVC 超高感度泄漏与气体测量装置
这款装置是日本 AVC 针对半导体与 MEMS 器件质量控制开发的超高真空测试系统,解决了传统设备无法同时实现超高灵敏度泄漏检测与痕量气体分析的痛点,以磁浮式真空系统与四极杆质谱技术,为用户提供一站式器件性能评估方案。

系统配备 300L / 秒磁浮式 TMP 与 50L / 秒 TMP 串联排气系统,可实现 5×10⁻⁹Pa 以下的超高真空环境;搭载超低气体释放四极杆质谱分析计 TULO-RGA101,最小检出分压灵敏度达 1×10⁻¹²Pa,质量分析范围 1~100amu(可选 200/300amu),全压测量范围覆盖 10⁻⁹Pa~10⁻¹Pa。支持 MEMS、红外线传感器等器件的超高灵敏度泄漏测试,同时可测量 FED、半导体器件运行时的排放气体趋势,为器件性能评估提供关键数据支持。


核心性能与优势

  • 超高灵敏度泄漏检测:1×10⁻¹²Pa 分压灵敏度,可检测极微小泄漏,确保器件密封性能。

  • 宽范围气体分析:1~100amu(可扩展至 300amu)质量分析,覆盖常见气体与有机挥发物。

  • 超高真空环境保障:磁浮式 TMP 串联排气,实现 5×10⁻⁹Pa 以下真空度,消除背景干扰。

  • 多功能集成设计:同时支持泄漏测试与放出气体分析,一站式完成器件性能评估。

  • 精密器件适配:专为 MEMS、半导体器件设计,满足微纳电子器件的严苛测试需求。


典型应用场景

  • MEMS 器件、红外线传感器的超高灵敏度泄漏测试

  • 半导体器件、FED 的运行放出气体趋势分析

  • 精密电子部件的密封性能与材料放气评估

  • 真空器件、传感器的长期稳定性与可靠性测试



核心规格一览

表格
项目规格说明
排气系统300L / 秒磁浮式 TMP + 50L / 秒 TMP(串联)
到达压力5×10⁻⁹Pa 以下
分析计超低气体释放四极杆质谱分析计 TULO-RGA101
最小检出分压灵敏度1×10⁻¹²Pa
质量分析范围1~100amu(可选 200/300amu)
全压测量范围10⁻⁹Pa ~ 10⁻¹Pa


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