日本 DIA 电子 UI‑R1 便携式探伤仪

日本 DIA 电子 UI‑R1 便携式探伤仪日本 DIA 电子 UI‑R1 便携式探伤仪

设备基础规格

• 执行标准：符合 JSNDI 数字超声波探伤仪基本操作规范

• 机身结构：紧凑型机身设计，搭载全键盘配置

• 支架结构：无级调节支架，支持 180° 角度调整

• 操作方式：实体按键直控，操作直观便捷

核心产品特性

UI‑R1 是 DIA 电子主打易用性的便携式数字超声波探伤仪，严格遵循 JSNDI 数字超声波探伤仪的基础操作规范，贴合国内及日系探伤行业作业习惯，探伤人员可以快速上手开展检测工作。设备采用 UI‑S7a 同款紧凑小巧机身，同时继承 UI‑27 的全键盘硬件配置，实体按键直接操作，功能调取直观高效，不需要多层菜单反复跳转，大幅提升现场探伤作业效率。设备搭载无级调节支架，可在 180° 范围内自由调整屏幕角度，操作人员可根据现场探伤姿势、作业站位灵活调整显示屏视角，长时间作业也可以获得舒适的观测角度，缓解现场作业的视觉疲劳。仪器波形显示清晰，参数设置逻辑成熟，可稳定捕捉工件内部缺陷回波信号，完成裂纹、空洞、分层等各类内部缺陷检测。整机外壳防护可靠，机身便携，适合外出巡检、车间现场检测、实验室试样评估等多种场景。兼顾老款 R 型仪器的成熟操作逻辑，老探伤人员无需重新适应操作习惯，设备稳定性出色，数据读取可靠，是兼顾易用性与检测性能的现场无损检测设备，广泛适配金属零部件、复合材料、功率器件等多类工件探伤作业。

适用场景

适用于各类工业零部件、金属材料、复合材料、功率器件的现场无损探伤，用于工件内部裂纹、空洞、分层缺陷检测，广泛应用于车间现场检测、户外巡检、实验室样品评估，满足探伤人员高频次现场作业需求。