日本 DIA 电子 MIZ‑21C 涡流探伤装置

日本 DIA 电子 MIZ‑21C 涡流探伤装置日本 DIA 电子 MIZ‑21C 涡流探伤装置

设备基础规格

• 外形尺寸：267mm×122mm×38mm

• 整机重量：1.2kg（安装电池及外壳时）

• 显示屏：5.7 英寸多点触控屏，480×640 像素

• 电池续航：最长 10 小时

• 涡流探头连接器：Lemo 18 针

• 涡流阵列探头连接器：Lemo 26 针

• 接口：USB2.0、Wi‑Fi、蓝牙

• 编码器：2 轴（相位差输出）

• 周波数带域幅：5Hz‑10MHz

• 信号发生器出力：最大 12Vpp (ECA 19Vpp)，0.1V 步进调节

• 接收增益：10~132dB

• 数据分辨率：16 位

• 探针驱动：50Ω

• 内置驱动器：128GB

• 可选型号：MIZ‑21C‑SF、MIZ‑21C、MIZ‑21C‑ARRAY

核心产品特性 

MIZ‑21C 是日本 DIA 电子推出的阵列探头手持式涡流探伤装置，整机按照人体工学进行开发，整机重量仅 1.2kg，机身轻薄紧凑，操作人员可以在狭小受限空间内轻松开展检测作业，支持长时间手持作业，有效降低现场作业疲劳度。设备搭载 5.7 英寸多点触控显示屏，人机交互直观简单，同时配备 USB2.0、Wi‑Fi、蓝牙多种外部接口，便于检测数据导出、设备互联拓展。设备本体采用充分宽温使用范围与全密封结构，完成跌落测试与振动测试，能够应对各类严苛户外及车间工业环境。产品提供 SF、标准版、ARRAY 阵列版多款机型，线圈通道数量区分明确，可兼容单线圈探头、双线圈探头、阵列探头、旋转扫描探头，可根据实际检测工况选型。仪器集成涡流探伤、电导率测量、非导电涂层厚度测量多项功能，电导率测量区间 0.9~110% IACS，涂层厚度测量范围 0‑1.000mm，测量精度稳定可靠。设备滤波器模式丰富，可抑制现场环境干扰，稳定捕捉工件表面、近表面缺陷信号。内置 128GB 大容量存储，支持最长 60 秒或 10 米长度的数据记录，检测数据可留存回溯，适配航空航天、石油天然气、电力设备制造等多行业，兼顾现场巡检和实验室试样评价，是实用性较强的便携式涡流无损检测设备。

适用场景 

用于层间腐蚀检测、电导率及涂层厚度测量；完成管道、压力容器、储罐的腐蚀与裂纹检测；对高焊焊缝及 FSW 摩擦搅拌焊开展裂纹评估与尺寸测量，广泛用于航空航天、石油天然气、制造业、电力行业各类构件表面及近表面无损探伤。