日本 DIA 电子 UI‑29 便携式探伤仪

日本 DIA 电子 UI‑29 便携式探伤仪日本 DIA 电子 UI‑29 便携式探伤仪

设备基础规格

• 通道配置：2ch 同步探伤

• 通讯方式：LAN 网络通信，支持远程操作

• 配套软件：PC 端数据显示与分析软件

• 扩展能力：外部设备对接、机构装置联动、报警可视化、全波形记录

• 定制化：可根据探伤工况定制硬件与软件

核心产品特性 

UI‑29 是 DIA 电子推出的便携式超声波探伤仪器，面向现场探伤人员使用，设备机身便携，能够实现 2 通道同步探伤作业，可同时采集两组探伤信号，有效提升多点位检测工作效率，适配现场巡检、实验室样品检测等多种工作场景。设备预留充足扩展功能，可对接外部设备，支持和自动化机构装置联动，能够接入自动化检测工位使用，同时具备报警可视化、全波形记录功能，完整留存探伤原始波形数据，方便后期复盘溯源。仪器搭载 LAN 通信接口，搭建网络环境后可实现远程操作，工作人员可远程完成设备参数设置、探伤作业管控，便于实验室与现场设备协同工作。配套专用 PC 分析软件，探伤采集的数据可传输至电脑端，完成图像回放、数据解析、报告整理等工作，便于批量归档管理。设备支持软硬件定制，可针对不同工件、不同探伤工艺需求做专用化改造，适配半导体、金属构件、复合材料等多样化检测对象。整机操作逻辑贴合探伤人员使用习惯，人机交互界面直观，波形显示清晰，参数设置便捷，兼顾便携现场使用与半自动化产线配套，设备稳定性强，可长期稳定完成无损探伤作业，降低检测人员操作门槛。 

适用场景 

广泛用于金属构件、功率器件、复合材料的现场无损探伤，可检测工件内部裂纹、空洞、分层等缺陷，适用于现场巡检、实验室样品评估、自动化产线配套检测，满足工业制造、材料研发、来料检验等各类探伤作业需求。