日本 NEOARK 分光克尔法拉第效应测量装置

Name: 日本 NEOARK 分光克尔法拉第效应测量装置
Brand: 其他品牌
Price: 1113 CNY
Availability: InStock

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产品名称: 日本 NEOARK 分光克尔法拉第效应测量装置

产品型号:

产品特点: 日本 NEOARK 分光克尔法拉第效应测量装置
该装置采用白光光源完成磁光效应波长依赖性光谱评估，依托多通道分光器实现高速采集，整套光谱测试耗时控制在 5 分钟以内，支持检测磁滞回线随波长的变化特性，可针对不同波段试样开展磁光性能分析。

日本 NEOARK 分光克尔法拉第效应测量装置 的详细介绍

日本 NEOARK 分光克尔法拉第效应测量装置

设备基础规格

‑评估波长范围：350‑900nm，可拓展 900‑1700nm，法拉第效应单波长评估需咨询

‑空间分辨率：Φ5mm

‑最大印加磁场：10kOe 及以上

‑测试模式：克尔效应、法拉第效应，磁滞回线波长依赖性测试

‑核心采集方式：多通道分光器高速光谱采集

设备依靠白光入射配合多通道分光器架构，摆脱单波长激光器限制，一次采集即可获取宽波段下完整磁光光谱数据，大幅缩短光谱测试周期，整套光谱测量可控制在 5 分钟以内。设备不仅可以采集不同波长对应的克尔、法拉第信号光谱曲线，还能够解析磁滞回线的波长依赖特性，便于科研人员分析磁性材料在不同光波段下的磁光响应差异。硬件配置可按需拓展红外波段测试能力，适配多样样品研究需求。整机配套专用分析软件，完成光谱数据存储、曲线导出与结果处理，设备整体为机柜式集成结构，适合实验室固定工位部署，无需复杂样品预处理，即可开展多种磁性试样的磁光光谱表征工作。

适合高校材料学院、磁学重点实验室、科研院所、磁性薄膜与磁光器件研发企业，用于磁性薄膜、磁光材料的光谱特性研究，克尔效应与法拉第效应全波段性能评估，磁滞回线波长依赖性分析，新材料配方研发阶段的磁光性能筛选，也可用于磁光器件前期工艺验证与样品比对测试。

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日本 NEOARK 分光克尔法拉第效应测量装置

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