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日本 TECHNO MU TFS2100 粗糙度测定装置

产品名称: 日本 TECHNO MU TFS2100 粗糙度测定装置
产品型号: TFS2100 / TFS2100AW
产品特点: 日本 TECHNO MU TFS2100 粗糙度测定装置
TFS2100 系列采用 φ2μm 极小光斑共焦点激光传感器，非接触扫描获取工件断面轮廓与表面粗糙度数据，测量标准符合 JIS'94、JIS'01，可检测金属、树脂、透明玻璃、镜面材质，支持系统按需定制。

日本 TECHNO MU TFS2100 粗糙度测定装置 的详细介绍
日本 TECHNO MU TFS2100 粗糙度测定装置
日本 TECHNO MU TFS2100 粗糙度测定装置

设备基础规格

  1. 机型区分：TFS2100AW（搭载共焦点传感器）；TFS2100（传感器选配）

  2. 测量方式：共焦点式

  3. 作动距离：6mm

  4. Z 轴测定范围：±0.3mm

  5. 光斑直径：φ2μm

  6. 分辨率：0.01μm

  7. 光源：670nm 可见光半导体激光 CLASS I

  8. 适用样品：金属、橡胶、薄膜、树脂、透明体、镜面工件

核心产品特性

TFS2100 非接触断面粗糙度测定装置采用超细光斑激光传感方案，突破传统接触式粗糙度仪容易划伤软质、抛光样品的短板，依靠非接触扫描方式完成断面轮廓与表面粗糙度同步检测。设备搭载 φ2μm 微小光斑，能够捕捉微观细微表面起伏，测量精度可达 0.01μm；独特光路设计支持透明工件与镜面反光工件稳定测量，材质适应性广泛。粗糙度运算规则遵循 JIS'94、JIS'01 工业标准，测量数据可与传统检测设备对标比对，同时支持导入企业自定义粗糙度评判参数，满足企业个性化质控需求。系统兼容市面主流激光位移传感器，硬件搭配灵活，数据采集速度快，多种扫描测量模式可供切换。整机结构紧凑占地小，配套软件操作简洁，自动生成轮廓曲线与粗糙度分析报告。厂商可根据待测工件外形、尺寸定制运动平台与扫描行程，适配实验室研发抽检与产线品质检测场景，广泛应用于精密金属加工、光学元件、薄膜材料、橡塑制品的表面形貌与粗糙度检测。

适用生产场景

金属板材、精密机加工件粗糙度检测；树脂、橡胶、薄膜表面轮廓测量；光学玻璃、透明基材断面扫描；模具微观形貌分析；新材料研发表面特性测试。


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