日本NAPSON便携式电阻测定器EC-80P产品介绍

本机测量对象涵盖硅、多晶硅、SiC等半导体与太阳能材料，碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等新素材，金属薄膜、ITO等导电薄膜，以及GaAs、GaN、InP等化合物半导体。试样尺寸不小于φ20mm且具有平面即可。全探头合计测量范围：电阻率1mΩ·cm至200Ω·cm，シート电阻10mΩ/□至3kΩ/□。分档探头包括Low（0.01至0.5Ω/□）、Middle（0.5至10Ω/□）、High（10至1,000Ω/□）、S-High（1,000至3,000Ω/□）及Solar Wafer（5至500Ω/□）。本体W255×D275×H95mm、约4kg，探头部φ20×80mm，最多可同时接两根探头，电阻率与シート电阻模式一键切换。