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显微级高精度双折射检测！Photonic Lattice WPA-micro 二维双折射评价系统
Photonic Lattice 推出的WPA-micro 二维双折射评价系统，是专为显微视野下的微小样品、结晶材料设计的高精度光学检测设备，通过三波长测量技术，将位相差测量范围拓展至 0~3500nm，可实现非接触式、无损伤的双折射分布、结晶配向与应力可视化分析，适配微观材料的研发与质控需求。
该系统可搭载奥林巴斯或尼康品牌的显微镜，在显微视野下完成屈折 / 位相差分布测量，支持对金属等不透明样品进行反射评估，实现晶体取向分布的数据化分析，直观呈现微观结构的应力与配向状态。系统搭载 11 万像素复屈折面素传感器，以 523nm、543nm、575nm 三波长精准测量，位相差重复再现精度 σ＜0.1nm，轴方位精度 σ＜0.1°（位相差＞10nm 时），同时支持应力值换算，为微观材料的性能分析提供精准数据支撑。
设备配套 WPA-View 专业分析软件，可生成 2D/3D 应力云图、结晶配向热力图，清晰展示样品的应力集中区域与结晶分布。非接触式测量无需样品预处理，不损伤被测物，适配薄膜、透明树脂、金属、晶体等各类材料的微观检测需求，是材料研发、科研实验、精密质控的核心光学检测工具。
核心优势
✅ 显微级精准测量：适配显微镜视野，可测 80×110μm~2.0×2.7mm 微小样品，覆盖微观检测需求✅ 超宽测量范围：位相差 0~3500nm，覆盖从低应力到高应力全场景✅ 超高测量精度：位相差重复精度＜0.1nm，轴方位精度＜0.1°，数据精准可靠✅ 全类型样品适配：支持透明样品透射检测、金属等不透明样品反射检测，适配多元场景✅ 结晶配向可视化：可数据化分析晶体取向分布，助力材料微观结构研究✅ 操作便捷高效：配套专业分析软件，自动化测量流程，快速出结果
核心参数
出力项目：位相差 (nm)、位相轴方位 (°)，支持应力值换算 (Mpa)
测定范围：0~3500nm（水晶评价时）
重复再现：位相差 σ＜0.1nm，轴方位 σ＜0.1°（位相差＞10nm 时）
复屈折画素数：384×288（≈11 万）像素
测定波长：523nm、543nm、575nm
本体尺寸：270×500×615 毫米，重量约 20 公斤
测定视野尺寸：约 80×110μm~ 约 2.0×2.7mm，支持 x2、x5、x10、x20、x50 物镜
接口：GigE（相机信号）、RS-232C（电机控制）
电源：交流 100-240 伏
适用场景
材料研发：晶体、薄膜、透明树脂等微观材料的应力分布与结晶配向分析
科研实验：金属、复合材料等不透明样品的反射式双折射检测
精密质控：微小光学元件、半导体材料的微观应力与缺陷检测
地质矿物：矿物晶体的取向分布与结构分析
其他领域：各类微观样品的非接触式双折射与应力检测
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